EA類設(shè)施： 安裝完成后的現(xiàn)場測試要求

A.??超六類網(wǎng)線安裝測試一般要求??

1、應(yīng)對安裝中的每條電纜鏈路執(zhí)行以下測試：

a.接線圖

b.長度

c.插入損耗

d.NEXT損耗

e.PS NEXT損耗

f.ACR-N損耗

g.ACR-F損耗

h.PS ACR-F損耗

i.回波損耗

j.傳輸延遲

k.延遲偏差

l.直流(d.c.)環(huán)路電阻

m.直流(d.c.)電阻不平衡

n.屏蔽層連通性(如有)

o.橫向轉(zhuǎn)換損耗(TCL)

p.等電平橫向轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)移損耗(ELTCTL)

遵循以下標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的現(xiàn)場測試規(guī)范：

• ISO/IEC 11801(2002)：信息技術(shù)– 用戶建筑群普通電纜線路

• ISO/IEC 11801：信息技術(shù)– 用戶建筑群普通電纜線路 修正1

• ISO/IEC 11801：信息技術(shù)– 用戶建筑群普通電纜線路 修正2

• IEC 61935-1 ed 4.0：ISO/IEC 11801標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的平衡通信電纜的測試 第1部分：已安裝電纜

  這些標(biāo)準(zhǔn)被統(tǒng)稱為“ISO E_A類標(biāo)準(zhǔn)”

本文檔使用的術(shù)語由以下標(biāo)準(zhǔn)定義或與其一致：

• “ISO/IEC 14763-2：信息技術(shù) — 用戶建筑群布線的實(shí)施和操作 - 第2部分：規(guī)劃與安裝

2.對于已安裝的雙絞線水平鏈路，應(yīng)從電信機(jī)房的IDF到工作區(qū)的墻式電信插座之間進(jìn)行測試，以便符合ISO E_A類標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的“永久鏈路”性能。

3.百分之百的已安裝電纜鏈路必須滿足以上A.1中所述標(biāo)準(zhǔn)的要求，這些要求的詳細(xì)內(nèi)容請參見章節(jié)B。如有任何鏈路未能通過測試，必須對其進(jìn)行診斷和修正。采取修正措施之后，必須重新進(jìn)行測試，以證明修正后的鏈路滿足性能要求。所有鏈路的最終測試結(jié)果和合格結(jié)果必須按照以下章節(jié)C的規(guī)定列在測試結(jié)果文件中。

4.負(fù)責(zé)執(zhí)行測試的技術(shù)人員應(yīng)參加過相應(yīng)培訓(xùn)計(jì)劃并獲得證書。相應(yīng)的培訓(xùn)計(jì)劃包括但不僅限于BiCSi、ACP (電纜專家協(xié)會)或福祿克網(wǎng)絡(luò)的CCTT (布線測試認(rèn)證工程師)培訓(xùn)伙伴提供的安裝認(rèn)證計(jì)劃。

5.測試設(shè)備(測試儀)應(yīng)滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC 61935-1：“平衡和同軸信息技術(shù)布線測試的技術(shù)規(guī)范– 第1部分：ISO/IEC標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的平衡布線 ”中規(guī)定的IIIe級現(xiàn)場測試儀精度要求。

注：如同一標(biāo)準(zhǔn)所述，符合IV級和/或V級要求與E_A類設(shè)施的測試沒有任何關(guān)聯(lián)。

6.包含相應(yīng)接口適配器的測試儀必須滿足規(guī)定的精度要求。永久鏈路測試配置的精度要求(基本精度加適配器的影響)參見標(biāo)準(zhǔn)IEC 61935-1的表14 – IEC指導(dǎo)規(guī)定的IIIE級現(xiàn)場測試儀精度性能參數(shù)。

7.永久鏈路適配器加NEXT/FEXT損耗應(yīng)介于測試插頭的下限和上限之間，符合標(biāo)準(zhǔn)IEC 60512-27-100 Ed 1.0：“電氣設(shè)備連接器 – 測試和測量 – 第27-100部分：60603-7系列連接器500 Mhz以下信號完整度測試 – 測試27a至27g”對6A類的要求。此類測試插頭通常被稱為“真正同心的測試插頭”。理想的測試插頭與附錄A.4“基于PCB的1 TFC總成”中所示的PCB式的版本完全相同。

8.為了達(dá)到廠商規(guī)定的測量精度，測試儀應(yīng)在廠商推薦的校準(zhǔn)周期之內(nèi)進(jìn)行校準(zhǔn)。

9.測試儀接口適配器必須具有高質(zhì)量，測試儀接口適配器的盤繞和儲存都不應(yīng)造成電纜扭曲或纏繞。為了實(shí)現(xiàn)最佳精度，規(guī)定了測試儀的永久鏈路接口適配器的性能，可將其進(jìn)行校準(zhǔn)，將回波損耗測量的參考面擴(kuò)展到永久鏈路接口。承包人應(yīng)該證明已經(jīng)在廠商建議的周期內(nèi)對接口進(jìn)行了校準(zhǔn)。為確保工作中的正常操作不會造成可測量的回波損耗發(fā)生變化，適配器電纜不應(yīng)采用雙絞線結(jié)構(gòu)。

10.被測鏈路的合格或不合格條件取決于要求的單項(xiàng)測試的結(jié)果(詳細(xì)信息見表1“已安裝平衡布線測試參數(shù)”的“內(nèi)部傳輸”部分)。任何標(biāo)注為“不合格”或“不合格*”的結(jié)果都造成被測鏈路測試“不合格”。只有每項(xiàng)測試參數(shù)均為“合格”或“合格*”時(shí)，整體結(jié)果才為“合格”。

11.每個(gè)參數(shù)的合格或不合格結(jié)果都通過將實(shí)測值與該參數(shù)的規(guī)定測試限值進(jìn)行比較確定。如果測試結(jié)果與測試限值的相近程度超過現(xiàn)場測試儀的精度指標(biāo)，則該參數(shù)的測試結(jié)果應(yīng)用星號(*)標(biāo)注。如果認(rèn)為測試儀的精度優(yōu)于IIIe級精度(ISO/IEC 619351-1：表9 – IIIE級測試儀器的最差條件插入損耗、NEXT、ACR-N、ELFEXT/ACR-F和回波損耗測量精度/永久鏈路限值處的鏈路精度)并用于判斷裕量結(jié)果，測試儀制造商必須提供來自于獨(dú)立實(shí)驗(yàn)室的“最差條件”測試數(shù)據(jù)，以支持這一觀點(diǎn)。何種程度的“*”結(jié)果影響被測元件的批準(zhǔn)或否決應(yīng)在相應(yīng)詳細(xì)規(guī)范中定義，或者作為合同規(guī)范的一部分商定。

 ??

B.超六類網(wǎng)線安裝測試性能測試參數(shù)

??1.EA類的測試參數(shù)在標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC 11801：信息技術(shù) – 客戶建筑群普通電纜線路的修訂2中定義。每條鏈路的測試應(yīng)包含以下所有參數(shù)，詳情見下文。為了通過測試，所有測量值(從1 MHz至500 MHz范圍的每種頻率下)都必須滿足或超過以上所述標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的限值。頻率步長應(yīng)不超過0.5 Mhz (100 MHz以下時(shí))和5 Mhz (500 MHz以下時(shí))。

2.接線圖
如果每對線對的端對端連接是正確的，則應(yīng)記錄為合格。接線圖結(jié)果應(yīng)包括屏蔽層的連通性(如有)。

3.插入損耗(衰減)
插入損耗是衡量永久鏈路或通道中信號損耗的一項(xiàng)指標(biāo)。術(shù)語“衰減”過去曾經(jīng)用于表示“插入損耗”。應(yīng)在1 MHz至500 MHz范圍內(nèi)測試插入損耗，最大步長為1 MHz。為了提高計(jì)算衰減串?dāng)_比(ACR)參數(shù)的精度，測量插入損耗時(shí)的頻率間隔最好與NEXT損耗相同。最小測試結(jié)果存檔(匯總結(jié)果)：判斷最差線對(4種可能中的1種)。最差線對的測試結(jié)果必須顯示實(shí)測的最高衰減值(最差條件)、最差條件值發(fā)生時(shí)的頻率以及該頻率下的測試限值。

4.NEXT損耗
應(yīng)在鏈路的每一段、對每一種線對組合(總共12種線對組合)進(jìn)行線對之間的近端串?dāng)_損耗(縮寫為NEXT損耗)測試。在1至500 MHz范圍內(nèi)測量該參數(shù)。NEXT損耗測量干擾線對發(fā)射端(近端)對另一線對的串?dāng)_。最小測試結(jié)果存檔(匯總結(jié)果)：判斷NEXT裕量最差(2)的線對組合和 NEXT值最差(最差條件)的線對組合。在被測鏈路的每一端測量NEXT。必須根據(jù)每一端的測試判斷這些線對組合。報(bào)告的每種情況應(yīng)該包括發(fā)生時(shí)的頻率以及該頻率下的測試限值。

5.PS NEXT損耗
應(yīng)該評估和報(bào)告被測鏈路兩端的每個(gè)線對的測試結(jié)果(共8個(gè)測試結(jié)果)。PS NEXT損耗表示其他線對實(shí)際傳輸信號時(shí)對該線對的組合近端串?dāng)_影響(統(tǒng)計(jì))。與NEXT一樣，必須在1至500 MHz范圍內(nèi)對該測試參數(shù)進(jìn)行評估：判斷裕量最差的線對和PS NEXT值最差的線對。必須根據(jù)每一端的測試判斷這些線對。報(bào)告的每種情況應(yīng)該包括發(fā)生時(shí)的頻率以及該頻率下的測試限值。

6.ACR-N，線對到線對
近端衰減串?dāng)_比是根據(jù)線對到線對的NEXT損耗和插入損耗計(jì)算得到的。應(yīng)該在被測鏈路的每一端對每種線對組合進(jìn)行測量。ACR-N測量近端串?dāng)_相對于到達(dá)鏈路起點(diǎn)的被衰減信號的相對強(qiáng)度。在1至500 MHz范圍內(nèi)測量ACR-N。最小測試結(jié)果存檔(匯總結(jié)果)：判斷裕量最差的線對組合以及ACR-N值最差的線對組合。必須根據(jù)每一端的測試判斷這些線對。報(bào)告的每種情況應(yīng)該包括發(fā)生時(shí)的頻率以及該頻率下的測試限值。

7.PS ACR-N，線對到線對
近端功率和衰減串?dāng)_比是計(jì)算得到的參數(shù)，表示其中三個(gè)線對對第四個(gè)線對的NEXT影響。應(yīng)該在被測鏈路的每一端對每種線對組合進(jìn)行測量。PS ACR-N測量全部近端串?dāng)_的功率和相對于到達(dá)鏈路起點(diǎn)的被衰減信號的相對強(qiáng)度。在1至500 MHz范圍內(nèi)測量PS ACR-N。最小測試結(jié)果存檔(匯總結(jié)果)：判斷裕量最差的線對組合以及PS ACR-N值最差的線對組合。必須根據(jù)每一端的測試判斷這些線對。報(bào)告的每種情況應(yīng)該包括發(fā)生時(shí)的頻率以及該頻率下的測試限值。

8.ACR-F，線對到線對
遠(yuǎn)端衰減串?dāng)_比是根據(jù)線對到線對的FEXT損耗計(jì)算得到的。應(yīng)該在被測鏈路的每一端對每種線對組合進(jìn)行測量。FEXT損耗測量干擾線對發(fā)射端外的另一端(遠(yuǎn)端)對另一線對的串?dāng)_。通過測量FEXT，計(jì)算得到ACR-F損耗，必須進(jìn)行評估并在測試結(jié)果中報(bào)告。ACR-F測量遠(yuǎn)端串?dāng)_相對于到達(dá)鏈路末端的被衰減信號的相對強(qiáng)度。該項(xiàng)測試一般有24種線對組合。在1至500 MHz范圍內(nèi)測量ACR-F。最小測試結(jié)果存檔(匯總結(jié)果)：判斷裕量最差的線對組合以及ACR-F值最差的線對組合。必須根據(jù)每一端的測試判斷這些線對。報(bào)告的每種情況應(yīng)該包括發(fā)生時(shí)的頻率以及該頻率下的測試限值。

9.PS ACR-F損耗
遠(yuǎn)端功率和衰減串?dāng)_比是計(jì)算得到的參數(shù)，表示其中三個(gè)線對對第四個(gè)線對的FEXT影響。該項(xiàng)測試一般有8種線對組合。在1至500 MHz范圍內(nèi)對每個(gè)線對進(jìn)行評估。最小測試結(jié)果存檔(匯總結(jié)果)：必須根據(jù)每一端的測試判斷最差組合的線對。報(bào)告的每種情況應(yīng)該包括發(fā)生時(shí)的頻率以及該頻率下的測試限值。

10.回波損耗
回波損耗(RL)表示每個(gè)線對上反射的總能量。在被測鏈路的每一端對每個(gè)線對執(zhí)行回波損耗測量。也在1至500范圍內(nèi)測量該參數(shù)。最小測試結(jié)果存檔(匯總結(jié)果)：判斷裕量最差的線對和回波損耗值最差的線對。必須根據(jù)每一端的測試判斷這些線對。報(bào)告的每種情況應(yīng)該包括發(fā)生時(shí)的頻率以及該頻率下的測試限值。

11.傳輸延遲
傳輸延遲指信號從鏈路的一端傳輸?shù)搅硪欢怂璧臅r(shí)間。對四個(gè)線對中的每個(gè)線對執(zhí)行該項(xiàng)測試。最小測試結(jié)果存檔(匯總結(jié)果)：判斷傳輸延遲最差的線對。報(bào)告應(yīng)包括實(shí)測傳輸延遲值以及測試限值

12.延遲偏差
該參數(shù)表示四個(gè)線對的傳輸延遲之間的差異。傳輸延遲最短的線對作為參考線對，其延遲偏差值為零。最小測試結(jié)果存檔(匯總結(jié)果)：判斷傳輸延遲最差的線對(傳輸延遲最大)。報(bào)告應(yīng)包括實(shí)測延遲偏差值以及測試限值。

13.直流(d.c.)環(huán)路電阻
該參數(shù)表示每個(gè)線對導(dǎo)線的總直流電阻。

14.直流(d.c.)電阻不平衡 
該參數(shù)表示每個(gè)線對的每根導(dǎo)線的直流電阻和線對間的直流電阻之間的差異，以確定已安裝鏈路是否支持PoE (以太網(wǎng)供電)。

15.屏蔽層連通性
如果TR、CP或TO處的電纜和連接硬件之間的屏蔽層不連續(xù)，則應(yīng)報(bào)告屏蔽層開路。此外，對于僅連接地線并嚴(yán)重影響TI表面?zhèn)鬏?span id="xftl75b" class="wp_keywordlink" style="color: rgb(0, 0, 0); margin: 0px auto; padding: 0px; border: 0px;">阻抗的現(xiàn)象，也應(yīng)報(bào)告為屏蔽層開路。

16.橫向轉(zhuǎn)換損耗(TCL)
近端不平衡衰減，通過計(jì)算布線系統(tǒng)中一個(gè)線對上差模功率與共模功率之比測得，系統(tǒng)中只注入差模功率。
注：由于缺乏針對鏈路的限值，所以應(yīng)采用通道的限值。與預(yù)期鏈路相比，該項(xiàng)要求可認(rèn)為是寬松的。

17.等電平橫向轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)移損耗(ELTCTL) 
遠(yuǎn)端不平衡衰減，通過計(jì)算布線系統(tǒng)中差模功率與共模功率之比測得，系統(tǒng)中只注入差模功率。該值為TCTL。從TCTL中減去被測通道/鏈路的插入損耗，即得到EL TCTL。根據(jù)實(shí)測差模和共模電壓之比進(jìn)行計(jì)算。
注：由于缺乏針對鏈路的限值，所以應(yīng)采用通道的限值。與預(yù)期鏈路相比，該項(xiàng)要求可認(rèn)為是寬松的。

 ??

C.超六類網(wǎng)線安裝測試結(jié)果文檔編制

 ??

1.測試結(jié)果/測量值應(yīng)傳輸至基于Windows?的數(shù)據(jù)庫應(yīng)用程序，支持對這些測試記錄進(jìn)行維護(hù)、檢查和存檔。必須保證在每項(xiàng)測試結(jié)束時(shí)將測量結(jié)果不加修改地傳輸?shù)絇C，也就是“和在測試儀中保存的一樣”，并且隨后也不能修改這些結(jié)果。

2.對于已完成的工作，應(yīng)該以CD-ROM或DVD的形式儲存和提供數(shù)據(jù)庫，包括查看、檢查以及打印任何測試報(bào)告選項(xiàng)所需的軟件工具。

3.應(yīng)提供紙質(zhì)測試結(jié)果，其中列出測試的所有鏈路以及以下匯總信息：

a.鏈路標(biāo)識，應(yīng)與總體系統(tǒng)文件中定義的命名規(guī)則一致。

b.被測鏈路的總體合格/不合格評估結(jié)果，包括NEXT裕量(總體最差條件)。

c.測試儀存儲器中保存數(shù)據(jù)時(shí)的日期和時(shí)間。

4.以電子形式提供的一般信息，以及每條鏈路的測試結(jié)果信息：

a.最終用戶規(guī)定的位置標(biāo)識。

b.鏈路標(biāo)識，應(yīng)與總體系統(tǒng)文件中定義的命名規(guī)則一致。

c.被測鏈路的總體合格/不合格評估結(jié)果。

d.處理測試結(jié)果時(shí)依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)的名稱。

e.電纜類型以及長度計(jì)算時(shí)使用的NVP值。

f.測試儀存儲器中保存數(shù)據(jù)時(shí)的日期和時(shí)間。

g.測試儀的品牌、型號及序列號。

h.測試儀接口的標(biāo)識。

i.測試儀的最后校準(zhǔn)日期。

j.測試儀軟件的版本以及測試儀中測試標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫的版本。

k.測試結(jié)果信息必須包含關(guān)于章節(jié)B中所列并在C5和C6中詳細(xì)介紹的每個(gè)測試參數(shù)的信息。

5.在鏈路(在通道)詳細(xì)測試結(jié)果。以電子數(shù)據(jù)庫形式提供的詳細(xì)測試結(jié)果數(shù)據(jù)必須包含以下信息：

對于頻率相關(guān)的每個(gè)測試參數(shù)，測試期間每一頻率下的實(shí)測值。PC數(shù)據(jù)庫程序必須能夠處理儲存的數(shù)據(jù)，以便顯示和打印測量參數(shù)的彩色圖形。PC軟件還必須提供匯總的數(shù)字格式，其中以數(shù)字形式提供一些關(guān)鍵信息，請參照上文所述的每個(gè)測試參數(shù)的匯總結(jié)果規(guī)定(最小數(shù)字測試結(jié)果文件)。

長度：判斷電氣長度最短的線對，長度值四舍五入到0.1 m (1)。

傳輸延遲：判斷傳輸延遲最短的線對，以納米(ns)為單位的測量值以及測試限值。

延遲偏差：判斷延遲偏差最大的線對，以納米(ns)為單位的計(jì)算值以及測試限值。

插入損耗(衰減)：按照章節(jié)B關(guān)于最差線對的介紹，存檔最小測試結(jié)果。

回波損耗：按照章節(jié)B關(guān)于最差線對的介紹，從鏈路的每一端進(jìn)行測量，存檔最小測試結(jié)果。

NEXT、ACR-N、ACR-F、TCL和ELTCTL：按照章節(jié)B關(guān)于最差線對組合的介紹，從鏈路的每一端進(jìn)行測量，存檔最小測試結(jié)果。

PS NEXT、PS ACRN和PS ACR-F：按照章節(jié)B關(guān)于最差線對的介紹，從鏈路的每一端進(jìn)行測量，存檔最小測試結(jié)果。

1：額定傳輸速度(NVP)表示電信號在電纜鏈路中相對于真空中光速(3×108 m/s)的速度。線對雙絞線的絕緣特性對NVP的影響很小。通常情況下，用“平均”NVP值表示數(shù)據(jù)電纜中的全部四個(gè)線對。

2：“裕量”表示實(shí)測值與對應(yīng)測試限值之差。對于通過測試的鏈路，“最差條件裕量”表示整個(gè)頻率范圍內(nèi)最小的裕量；即實(shí)測性能“最接近”測試限值的點(diǎn)。